村上技研/AE型芯片损伤检测装置AE-10M 产品特点：
检测方法 AE（声发射）法 检测分辨率 1μm 2 (模具损伤面积) *取决于条件等。 展示 AE波形实时显示（液晶显示屏） 检测信号响应 0.2mS（10ms内继电器输出 工作温度限制 0℃～40℃ 电源 AC100V±10%以下 机身尺寸 145(W)×110(H)×169(D) *不包括突出物等。 传感器尺寸 ・20Φ（直径）×20（高）mm：标准灵敏度型 ・20Φ（直径）×38（高）mm：高灵敏度型（放大器内置型） 带模拟输出 直流电压输出 0 至约 10V 具有传感器断线功能 集电极开路（NPN）输出
・20Φ（直径）×38（高）mm：高灵敏度型（放大器内置型）
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