TOPCON 拓普康/测定仪器/近红外分光辐射计SR-NIR
特点:
■ 能测定从FPD到微弱发光的近红外领域 ■ 高精度测定近红外领域(600~1030nm)的分光分布 ■ 和本公司其他型号的分光辐射度计一并使用时,能够测定可见光~近红外光(380~1030nm)的分光分布
主要用途:
■ 观察各类FPD的近红外领域的输出。 ■ 观察Ne、Ar的光谱线输出。 ■ 光学膜等的近红外透过特性评价。 ■ 其他光源的近红外分光测量
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